• <ul id="ewkgm"></ul>
      <ul id="ewkgm"></ul>
      <kbd id="ewkgm"></kbd><kbd id="ewkgm"></kbd>
    • 測(cè)試原理
      主要特征

      (1)最小雜質(zhì)尺寸可以檢測(cè)到10µm(常規(guī)選項(xiàng)為50µm)。另外,可以檢測(cè)和記錄所有的雜質(zhì)信息,這是傳統(tǒng)設(shè)備無(wú)法做到的。

      (2)根據(jù)模塊化的應(yīng)用,它能夠讓用戶很方便選擇功能,比如:進(jìn)料方式,照明類型等。這種靈活的控制方式,能夠讓用戶檢測(cè)不自由移動(dòng)的粉末,高透或者不透明的粒子,濕的材料以及用傳統(tǒng)方式無(wú)法檢測(cè)的纖維等。

      (3)圖像分析程序:用戶自定義的雜質(zhì)條件設(shè)置可以定義異色和異形的數(shù)值范圍。詳細(xì)的功能設(shè)定可以在軟件中設(shè)置完成,設(shè)置的參數(shù)可以進(jìn)行存儲(chǔ)并在下次使用時(shí)調(diào)用。通過(guò)參數(shù)設(shè)置,雜質(zhì)的檢測(cè)將變得更加精確。

      應(yīng)

      識(shí)

      • <ul id="ewkgm"></ul>
        <ul id="ewkgm"></ul>
        <kbd id="ewkgm"></kbd><kbd id="ewkgm"></kbd>