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粒子經(jīng)過單探頭時(shí)，粒子背面的黑點(diǎn)無法被攝像頭“看”到，對(duì)于追求粒子表面所有黑點(diǎn)數(shù)量的客戶，Calpas T雙探頭型樹脂雜質(zhì)掃描儀值得了解。

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用其它方式測量粒子的外觀，粒子在經(jīng)過攝像頭時(shí)，并不能100%保證粒子全身都能被攝像頭覆蓋，而Calpas T解決了這個(gè)問題。

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