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首頁涂層測厚測量原理

測量原理

朗博-比爾定理

用不同厚度水膜測量紅外吸收光譜，可以表示出同物質(zhì)膜厚度的差異。下圖為膜厚度不同的水膜紅外吸收光譜。

朗博比爾定理如下：

$I=KI_{0}e^{-\alpha t}$

I是吸收后的光強(qiáng) Io是吸收前的光強(qiáng)

t為膜厚

K是校正系數(shù)，補正吸收之外的其它因素引起的損耗

α為材料吸收系數(shù)，隨波長和材料種類改變

該公式描述了某物質(zhì)在吸收特定波長光譜的能力，通過公式變換，我們可以得到：

$\left\{\begin{matrix} I(\lambda M)=KI_{0}e^{-\alpha(\lambda M) t} \\ I(\lambda R)=KI_{0}e^{-\alpha(\lambda R) t} \end{matrix}\right. \\ t=\frac{1}{\alpha(\lambda M)-\alpha(\lambda R)}ln\frac{I(\lambda M)}{I(\lambda R)} \\Abs=lg\frac{I(\lambda M)}{I(\lambda R)} \\t=K\cdot Abs$