應(yīng)用擴(kuò)展

紅外線膜厚計(jì)需要根據(jù)測(cè)量對(duì)象物選定機(jī)種、干涉濾波器和檢測(cè)器等部件。為此需要豐富的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)，通過(guò)上述選定，可以測(cè)量以往不能測(cè)量的對(duì)象物。此外，測(cè)量的范圍也不僅僅是厚度，任何與產(chǎn)品物質(zhì)的量有關(guān)的性能理論上都可以通過(guò)建立相關(guān)性來(lái)測(cè)量。

紅外線膜厚儀的部件性能日益提高，并不斷提供新產(chǎn)品，與微處理器技術(shù)革新同步前進(jìn)。最近不僅僅是有機(jī)被覆磷酸、連硅酮(SiO2)和氧化鋁(Al2O3)等無(wú)機(jī)氧化物、金屬上的涂層、膜上的蒸鍍膜也可以通過(guò)材料組合測(cè)量了。

今后也將密切和各位用戶進(jìn)行合作并交換信息，進(jìn)一步提高這些裝置的性能和功能，根據(jù)目的提供新機(jī)種，繼續(xù)擴(kuò)大在各領(lǐng)域的用途。